Исследование микроструктуры материала
- сканирующего электронного микроскопа MIRA 3 LMU с катодом с полевой эмиссией (Tescan) с системой для исследования дифракции обратно отраженных электронов системы HKL Premium EBSD System на основе детектора Nordlys II F+ (Oxford Instruments);
-
- инвертированного микроскопа отраженного света Axiovert 25 CA (Carl Zeiss Mikroskopie);
-
- портативного микроскопа МПМ-2У-КС (НПК «МИКРОКОН»).